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  Probing Depth of Total Electron-Yield XAS: Monte-Carlo Simulations of Auger Electron Trajectories

Schroeder, S. L. M. (1997). Probing Depth of Total Electron-Yield XAS: Monte-Carlo Simulations of Auger Electron Trajectories. Journal de Physique IV, 7(C2), C2-153-C2-154. doi:10.1051/jp4/1997147.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-F919-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-F91A-3
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Schroeder, S. L. M.1, 2, 著者           
所属:
1Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK, ou_persistent22              
2Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: The signal formation in total electron-yield (TEY) XAS has been modelled for keV absorption edges using a computationally fast Monte-Carlo algorithm for the simulation of the Auger electron trajectories. It is shown that a pure KLL Auger-yield model achieves good agreement with experimental data for the K-edge TEY attenuation in Al and Cu. Advantages of the Monte-Carlo simulation approach over empirical and analytical models for the TEY are pointed out.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 1997-04
 出版の状態: 出版
 ページ: 2
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1051/jp4/1997147
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal de Physique IV
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Les Ulis, France : Les Editions de physique
ページ: 2 巻号: 7 (C2) 通巻号: - 開始・終了ページ: C2-153 - C2-154 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1155-4339
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925611967