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  Probing Depth of Total Electron-Yield XAS: Monte-Carlo Simulations of Auger Electron Trajectories

Schroeder, S. L. M. (1997). Probing Depth of Total Electron-Yield XAS: Monte-Carlo Simulations of Auger Electron Trajectories. Journal de Physique IV, 7(C2), C2-153-C2-154. doi:10.1051/jp4/1997147.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-F919-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-F91A-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schroeder, S. L. M.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Department of Chemistry, University of Cambridge, Lensfield Road, Cambridge CB2 1EW, UK, ou_persistent22              
2Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The signal formation in total electron-yield (TEY) XAS has been modelled for keV absorption edges using a computationally fast Monte-Carlo algorithm for the simulation of the Auger electron trajectories. It is shown that a pure KLL Auger-yield model achieves good agreement with experimental data for the K-edge TEY attenuation in Al and Cu. Advantages of the Monte-Carlo simulation approach over empirical and analytical models for the TEY are pointed out.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1997-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 2
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1051/jp4/1997147
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal de Physique IV
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Les Ulis, France : Les Editions de physique
Seiten: 2 Band / Heft: 7 (C2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: C2-153 - C2-154 Identifikator: ISSN: 1155-4339
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925611967