2D and 3D SEM-based electron diffraction techniques as central tools for 
correlative microscopy to obtain new insights into microstructure physics and 
chemistry

Zaefferer, Stefan

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2D and 3D SEM-based electron diffraction techniques as central tools for correlative microscopy to obtain new insights into microstructure physics and chemistry

Zaefferer, S. (2021). 2D and 3D SEM-based electron diffraction techniques as central tools for correlative microscopy to obtain new insights into microstructure physics and chemistry. Talk presented at Kolloquium des Zentrums für Elektronenmikroskopie, online. Graz, Österreich. 2021-03-09.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-4C1B-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-511F-A

資料種別: 講演

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Zaefferer, Stefan¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2021-03-09

出版の状態: 不明

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