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  Electronic surface structure of CoSi2(111)/Si(111): implications for ballistic electron-emission microscopy currents

Reuter, K., de Andres, P. L., Garcı́a-Vidal, F. J., Flores, F., & Heinz, K. (2000). Electronic surface structure of CoSi2(111)/Si(111): implications for ballistic electron-emission microscopy currents. Applied Surface Science, 166(1-4), 103-107. doi:10.1016/S0169-4332(00)00387-1.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Reuter, Karsten1, Autor           
de Andres, P. L., Autor
Garcı́a-Vidal, F. J., Autor
Flores, F., Autor
Heinz, K., Autor
Affiliations:
1Universidad Autónoma de Madrid, Spain, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Using a decimation technique, and imposing electrostatic self-consistency, we compute the surface electronic structure of various CoSi2(111)/Si(111) phases. The projected band structures and LDOS indicate a richness of surface related features. For the (1×1)Co-rich termination excellent agreement with experimental data and a recent DFT investigation is obtained. Strongly localized surface states on the high chain atoms of the (2×1) Pandey-chain like reconstruction are identified as causing the experimentally observed surface topography induced contrast in Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) images of such films.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000-09-072000-10-09
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 5
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/S0169-4332(00)00387-1
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
  Kurztitel : Appl. Surf. Sci.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: 5 Band / Heft: 166 (1-4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 103 - 107 Identifikator: ISSN: 0169-4332
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928576736