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  Voltage x-ray reflectometry: A method to study electric-field-induced changes to interfacial electronic structures

Ilse, S. E., Schütz, G., & Goering, E. (2023). Voltage x-ray reflectometry: A method to study electric-field-induced changes to interfacial electronic structures. Physical Review Letters, 131(3): 036201. doi:10.1103/PhysRevLett.131.036201.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-0689-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-068A-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.131.036201 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:
Hybrid

Urheber

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 Urheber:
Ilse, S. E.1, 2, Autor           
Schütz, Gisela1, Autor           
Goering, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Max-Planck-Institute for Solid State Research, D-70569 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2023-07-182023-07-21
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 6
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevLett.131.036201
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Kurztitel : Phys. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y. : American Physical Society
Seiten: - Band / Heft: 131 (3) Artikelnummer: 036201 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0031-9007
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925433406_1