Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond

Heyde, Markus; Simon, Georg Hermann; König, Thomas

doi:10.1007/978-3-642-01495-6_7

Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond

Heyde, M., Simon, G. H., & König, T. (2009). Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond. In S., Morita, F. J., Giessibl, & R., Wiesendanger (Eds.), Noncontact Atomic Force Microscopy (pp. 143-167). Berlin: Springer.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FB36-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-C851-E

資料種別: 書籍の一部

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Heyde, Markus¹, 著者
Simon, Georg Hermann¹, 著者
König, Thomas¹, 著者

所属:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 455745
DOI: 10.1007/978-3-642-01495-6_7

学位: -

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Noncontact Atomic Force Microscopy

種別: 書籍

著者・編者:
Morita, Seizo, 編集者
Giessibl, Franz J., 編集者
Wiesendanger, Roland, 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Berlin : Springer

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 143 - 167 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-3-642-01494-9

出版物 2

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出版物名: NanoScience and Technology

種別: 連載記事

著者・編者:
Avouris, P., 編集者
Bhushan, B., 編集者
Bimberg, D., 編集者
von Klitzing, K., 編集者
Sakaki, H., 編集者
Wiesendanger, R., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 2 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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