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  Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond

Heyde, M., Simon, G. H., & König, T. (2009). Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond. In S. Morita, F. J. Giessibl, & R. Wiesendanger (Eds.), Noncontact Atomic Force Microscopy (pp. 143-167). Berlin: Springer.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FB36-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-C851-E
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Heyde, Markus1, Autor           
Simon, Georg Hermann1, Autor           
König, Thomas1, Autor           
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 455745
DOI: 10.1007/978-3-642-01495-6_7
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Noncontact Atomic Force Microscopy
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Morita, Seizo, Herausgeber
Giessibl, Franz J., Herausgeber
Wiesendanger, Roland, Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 143 - 167 Identifikator: ISBN: 978-3-642-01494-9

Quelle 2

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Titel: NanoScience and Technology
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Avouris, P., Herausgeber
Bhushan, B., Herausgeber
Bimberg, D., Herausgeber
von Klitzing, K., Herausgeber
Sakaki, H., Herausgeber
Wiesendanger, R., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 2 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -