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  Combined low-temperature scanning tunneling/atomic force microscope for atomic resolution imaging and site-specific force spectroscopy

Albers, B., Liebmann, M., Schwendemann, T. C., Baykara, M. Z., Heyde, M., Salmeron, M., et al. (2008). Combined low-temperature scanning tunneling/atomic force microscope for atomic resolution imaging and site-specific force spectroscopy. Review of Scientific Instruments, 79(3), 033704-1-033704-9. Retrieved from http://dx.doi.org/10.1063/1.2842631.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FEFF-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FF00-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Albers, Boris, Autor
Liebmann, Marcus, Autor
Schwendemann, Todd C., Autor
Baykara, Mehmet Z., Autor
Heyde, Markus1, Autor           
Salmeron, Miquel, Autor
Altman, Eric I., Autor
Schwarz, Udo D., Autor
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 402701
URI: http://dx.doi.org/10.1063/1.2842631
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Review of Scientific Instruments
  Alternativer Titel : Rev. Sci. Instrum.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 79 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 033704-1 - 033704-9 Identifikator: -