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  Combined low-temperature scanning tunneling/atomic force microscope for atomic resolution imaging and site-specific force spectroscopy

Albers, B., Liebmann, M., Schwendemann, T. C., Baykara, M. Z., Heyde, M., Salmeron, M., Altman, E. I., & Schwarz, U. D. (2008). Combined low-temperature scanning tunneling/atomic force microscope for atomic resolution imaging and site-specific force spectroscopy. Review of Scientific Instruments, 79(3), 033704-1-033704-9. Retrieved from http://dx.doi.org/10.1063/1.2842631.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FEFF-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-FF00-A
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Albers, Boris, 著者
Liebmann, Marcus, 著者
Schwendemann, Todd C., 著者
Baykara, Mehmet Z., 著者
Heyde, Markus1, 著者           
Salmeron, Miquel, 著者
Altman, Eric I., 著者
Schwarz, Udo D., 著者
所属:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2008
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 402701
URI: http://dx.doi.org/10.1063/1.2842631
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Review of Scientific Instruments
  出版物の別名 : Rev. Sci. Instrum.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 79 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 033704-1 - 033704-9 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -