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  Probing interface electronic structure with overlayer quantum-well resonances: Al/Si(111)

Aballe, L., Rogero, C., Kratzer, P., Gokhale, S., & Horn, K. (2001). Probing interface electronic structure with overlayer quantum-well resonances: Al/Si(111). Physical Review Letters, 87(15): 156801. doi:10.1103/PhysRevLett.87.156801.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

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:
PRL-87-156801-2001.pdf (beliebiger Volltext), 418KB
Name:
PRL-87-156801-2001.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2001
Copyright Info:
APS
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Aballe, Lucia1, Autor           
Rogero, Celia1, Autor           
Kratzer, Peter2, Autor           
Gokhale, Shubha1, Autor           
Horn, Karsten1, Autor           
Affiliations:
1Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              
2Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-06-082001-10-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevLett.87.156801
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Kurztitel : Phys. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y. : American Physical Society
Seiten: 4 Band / Heft: 87 (15) Artikelnummer: 156801 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0031-9007
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925433406_1