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  Electron-ion interactions for trapped highly charged Ge ions

Machtoub, G. H., Crespo López-Urrutia, J. R., Zhang, X., & Tawara, H. (2006). Electron-ion interactions for trapped highly charged Ge ions. Canadian Journal of Physics, 84(1), 67-81.

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資料種別: 学術論文

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 作成者:
Machtoub, G. H.1, 著者
Crespo López-Urrutia, J. R.2, 著者           
Zhang, X.3, 著者           
Tawara, H.2, 著者           
所属:
1Inst Laser Sci, Tokyo, 1828585 Japan Fudan Univ, Inst Modern Phys, Appl Ion Beam Phys Lab, Shanghai, 200433 Peoples R China, ou_persistent22              
2Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              
3Division Prof. Dr. Werner Hofmann, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904550              

内容説明

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キーワード: 32.30.Rj
 要旨: A theoretical simulation of complex K X-ray spectra including those from dielectronic recombination and excitation processes is presented for trapped highly charged germanium ions ( Geq+, q = 27–30) interacting with a dense electron beam. We carried out numerical calculations of transition rates, level energies, transition wavelengths, resonance and collision strengths, and satellite intensity factors. Analytical results related to cross sections of B- through He-like Ge ions were obtained as well. The simulated spectra, including the contribution from different charge states of Ge27+–Ge30+, show good overall agreement over a wide electron energy range with the available X-ray measurements from the Heidelberg electron beam ion trap (EBIT). We have also predicted the electron impact excitation cross-section ratios for different transitions of Ge29+ and Ge30+ ions. It should be emphasized that the present analysis can also provide new information and clues of possible temperature measurements for EBIT and other plasma diagnostics.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 280985
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Canadian Journal of Physics
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 84 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 67 - 81 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: ISSN 1208-6045