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Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device

MPG-Autoren
/persons/resource/persons31099

Tawara,  Hiroyuki
Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Sakaue, H. A., Yamamoto, N., Morita, S., Nakamura, N., Chen, C., Kato, D., et al. (2011). Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device. Journal of Applied Physcis, 109(7): 073304. doi:10.1063/1.3549707.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-134C-D
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