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Vortrag

3D orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterisation

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125491

Zaefferer,  S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Zaefferer, S. (2007). 3D orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterisation. Talk presented at Res Metallica Chair 2007. KU Leuven, Belgium. 2007-03-07.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-537D-C
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