Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics

Schmuck, S.; Svensson, J.; de la Luna, E.; Figini, L.; Johnson, T.; Alper, B.; Beurskens, M.; Fessey, J.; Gerbaud, T.; Sirinelli, A.

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Konferenzbeitrag

Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics

MPG-Autoren

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Schmuck, S.
W7-X: Physics (PH), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Svensson, J.
W7-X: Physics (PH), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;
W7-X: Heating and CoDaC (HC), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Schmuck, S., Svensson, J., de la Luna, E., Figini, L., Johnson, T., Alper, B., et al. (2011). Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics. In A. Becoulet, T. Hoang, & U. Stroth (Eds.), 38th European Physical Society Conference on Plasma Physics. Contributed Papers. Geneva: European Physical Society.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0026-EB85-4

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