Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam

Gruen, D.; Bernstein, G.M.; Jarvis, M.; Rowe, B.; Vikram, V.; Plazas, A.A.; Seitz, S.

doi:10.1088/1748-0221/10/05/C05032

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Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam

MPS-Authors

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Gruen, D.
Optical and Interpretative Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society;

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Seitz, S.
Optical and Interpretative Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society;

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引用

Gruen, D., Bernstein, G., Jarvis, M., Rowe, B., Vikram, V., Plazas, A., & Seitz, S. (2015). Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam. Journal of Instrumentation, 10(5):, 1-21. doi:10.1088/1748-0221/10/05/C05032.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-3DDE-2

要旨

要旨はありません