Velocity Map Imaging of Electrons Strong-Field Photoemitted from Si-Nanotip 
Arrays

Ye, Hong; Kienitz, Jens S.; Fang, Shaobo; Trippel, Sebastian; Swanwick, Michael E.; Keathley, Phillip D.; Velásquez-García, Luis F.; Cirmi, Giovanni; Rossi, Giulio M.; Fallahi, Arya; Mücke, Oliver D.; Küpper, Jochen; Kärtner, Franz X.

doi:10.1007/978-3-319-13242-6_163

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Konferenzbeitrag

Velocity Map Imaging of Electrons Strong-Field Photoemitted from Si-Nanotip Arrays

MPG-Autoren

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Ye, Hong
International Max Planck Research School for Ultrafast Imaging & Structural Dynamics (IMPRS-UFAST), Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Max Planck Society;
Center for Free-Electron Laser Science, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestraße 85, 22607 Hamburg, Germany;
Department of Physics, University of Hamburg, Luruper Chaussee 149, 22761 Hamburg, Germany;

Externe Ressourcen

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-13242-6_163
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Zitation

Ye, H., Kienitz, J. S., Fang, S., Trippel, S., Swanwick, M. E., Keathley, P. D., et al. (2015). Velocity Map Imaging of Electrons Strong-Field Photoemitted from Si-Nanotip Arrays. Springer Proceedings in Physics, 162, 663-666. doi:10.1007/978-3-319-13242-6_163.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-5F60-2

Zusammenfassung

We observe the electron velocity/momentum distributions due to three-photon ionization and strong-field photoemission from Si-nanotip arrays using velocity map imaging.