Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics

Schmuck, S.; Svensson, J.; de la Luna, E.; Figini, L.; Johnson, T.; Alper, B.; Beurskens, M.; Fessey, J.; Gerbaud, T.; Sirinelli, A.; JET EFDA Contributors

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Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics

MPG-Autoren

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Schmuck, S.
W7-X: Physics (PH), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons110611

Svensson, J.
W7-X: Heating and CoDaC (HC), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;
W7-X: Physics (PH), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Schmuck, S., Svensson, J., de la Luna, E., Figini, L., Johnson, T., Alper, B., et al. (2011). Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics. Poster presented at 38th EPS Conference on Plasma Physics, Strasbourg.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-5E27-C

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