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Poster

Increased detector efficiency helps to reveal new insights into compositional fluctuations at defects in Cu2ZnSnSe4 thin films

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125383

Schwarz,  Torsten
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons185411

Gault,  Baptiste
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125330

Raabe,  Dierk
Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Schwarz, T., Redinger, A., Siebentritt, S., Gault, B., Raabe, D., & Choi, P.-P. (2018). Increased detector efficiency helps to reveal new insights into compositional fluctuations at defects in Cu2ZnSnSe4 thin films. Poster presented at APT&M 2018, NIST, Gaithersburg, MD, USA.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-D5E3-E
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