Refining edge impurity profiles using molecular gas puff modeling for CXRS 
measurements

McKay, K.; Cruz-Zabala, D. J.; Viezzer, E.; Lopez-Cansino, R.; Rueda-Rueda, J.; Cano Megias, P.; Rodriguez-Gonzalez, A.; Plank, U.; McDermott, R. M.; Dux, R.; ASDEX Upgrade Team, Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society

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Refining edge impurity profiles using molecular gas puff modeling for CXRS measurements

MPG-Autoren

/persons/resource/persons292523

Cano Megias, P.
Physics of the Plasma Edge (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons191453

Plank, U.
Physics of the Plasma Edge (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons109916

McDermott, R. M.
Physics of the Plasma Edge (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons108992

Dux, R.
Physics of the Plasma Edge (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

McKay, K., Cruz-Zabala, D. J., Viezzer, E., Lopez-Cansino, R., Rueda-Rueda, J., Cano Megias, P., et al. (2024). Refining edge impurity profiles using molecular gas puff modeling for CXRS measurements. Poster presented at 50th EPS Conference on Plasma Physics, Salamanca.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-9429-C

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