Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and 
simulation highlight the influence of the pigment grain size

Beck, L.; Mayer, M.; Silva, T. F.; Berthier, C.; Pichon, L.

doi:10.1016/j.nimb.2024.165468

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Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size

MPG-Autoren

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Mayer, M.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468
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Zitation

Beck, L., Mayer, M., Silva, T. F., Berthier, C., & Pichon, L. (2024). Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 555: 165468. doi:10.1016/j.nimb.2024.165468.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-9AD7-1

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