Advances in in-situ testing in scanning electron microscopes: probing 
mechanical properties at the nano/micro-scale

Motz, C.; Kiener, D.; Kirchlechner, C.; Grosinger, W.; Pippan, R.; Dehm, G.

Advances in in-situ testing in scanning electron microscopes: probing mechanical properties at the nano/micro-scale

Motz, C., Kiener, D., Kirchlechner, C., Grosinger, W., Pippan, R., & Dehm, G. (2011). Advances in in-situ testing in scanning electron microscopes: probing mechanical properties at the nano/micro-scale. In 10th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2011) (pp. 57-58).

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-001A-23C9-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-001A-2457-8

資料種別: 会議論文

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Motz, C.¹, 著者
Kiener, D.¹, 著者
Kirchlechner, C.¹, 著者
Grosinger, W.¹, 著者
Pippan, R.¹, 著者
Dehm, G.¹, 著者

所属:
1Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Leoben, Austria, ou_persistent22

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日付: 出版: 2011-09-09

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出版物名: 10th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2011)

種別: 会議論文集

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